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分布式偏振串擾測試儀OLI-P是基于白光干涉的，采樣分辨率優(yōu) 于2cm ， 噪聲靈敏度可達-90dB。設備可高精度測量保偏光纖環(huán)、Y波 導芯片等器件的分布式偏振串擾。通過偏振串擾測試 ，精準定位保偏光路 中異常串擾點位置、分析連接頭或耦合端面質(zhì)量、測量保偏器件芯片的偏振消光比等。該產(chǎn)品可用于產(chǎn)品工藝設計改進或產(chǎn)線批量檢測。

光纖微裂紋檢測儀OLI是一款低成本高精度光學鏈路診斷系統(tǒng)。其原理基于光學相干檢測技術，利用白光的低相干性可實現(xiàn)光纖鏈路或光學器件的微損傷檢測。通過讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測量整個掃描范圍內(nèi)的回波損耗，進而判斷此測量范圍內(nèi)鏈路的性能。